X射线荧光分析仪利用X射线管产生的X射线作为激光源激发样品产生荧光x射线。作为一种质量手段检测,X射线荧光分析仪在国内几乎所有大中型水泥厂(新型干法)都有使用,荧光分析仪的误差来源有哪些?荧光分析仪利用X射线管产生的X射线作为激光源激发样品产生荧光X射线。
1、x射线粉晶衍射仪对操作者的身体健康有什么影响么?x-ray 荧光分析仪利用X射线管产生的X射线作为激光源,激发样品产生荧光x射线。根据荧光x射线的波长和强度确定样品的化学成分。作为一种质量手段检测,X射线荧光分析仪在国内几乎所有大中型水泥厂(新型干法)都有使用。X-ray 荧光分析产生误差的原因主要有三个:操作、仪器和样本本身。造成操作错误的因素:①研磨时研磨时间和压力设置不当,无法达到要求的研磨粒度或相应的粒度分布。
同时,未添加合适的助磨剂或添加的助磨剂含有待分析的元素都会对测定结果产生较大影响。磨头和磨盘内存在早期样品或被其他物质污染),结果也会产生误差。②压片时,时间和压力设置不当,加压效果不好,或压片时样品分布不均匀造成样品分布不均匀,或压片板(压片头)不干净(或前面的样品粘在上面),都会影响分析结果。(3)样品制备没有得到很好的保护,样品盒中样品制备的位置不当,导致分析出现误差。
2、 荧光分析仪的误差来源有哪些X-ray 荧光分析仪利用X射线管产生的X射线作为激光源,激发样品产生荧光X射线。根据荧光X射线的波长和强度确定样品的化学成分。作为一种质量手段检测,X射线荧光分析仪在国内几乎所有大中型水泥厂(新型干法)都有使用。X-ray 荧光分析产生误差的原因主要有三个:操作、仪器和样本本身。造成操作错误的因素:①研磨时研磨时间和压力设置不当,无法达到要求的研磨粒度或相应的粒度分布。
同时,未添加合适的助磨剂或添加的助磨剂含有待分析的元素都会对测定结果产生较大影响。磨头和磨盘内存在早期样品或被其他物质污染),结果也会产生误差。②压片时,时间和压力设置不当,加压效果不好,或压片时样品分布不均匀造成样品分布不均匀,或压片板(压片头)不干净(或前面的样品粘在上面),都会影响分析结果。(3)样品制备没有得到很好的保护,样品盒中样品制备的位置不当,导致分析出现误差。
3、...测定含有杂质的 石灰石样品中碳酸钙的质量分数(杂(1)碳酸钙与盐酸反应生成氯化钙、水和二氧化碳,余量足够。所以答案是:CaCO3 2 HCl CaCl2 CO2 = H2O (2)托盘天平只能标定到0.1g,所以答案是:(3)倾斜试管可以使石灰石与稀盐酸反应,所以答案是。证明反应已经结束,所以答案是:(5)设碳酸钙的质量分数为xca co 3 2 HCl CaCl 2 CO2 ↑ H2O 100441.003 GX 0.374g 1001.003 GX = 440.374 GX 85%,所以答案是:85%(6)二氧化碳能溶于水,一部分二氧化碳能溶于水,所以数值。
4、某石灰厂需要测定 石灰石样品中CaC03的质量分数.小刚设计了如图所示装置...(1)仪器①的名称为:锥形瓶;(2)氢氧化钠溶液能与二氧化碳发生反应,在本实验中用来吸收二氧化碳。二氧化碳吸收导管要伸到液面以下,这样可以充分吸收二氧化碳,所以我选择装置I;(3)空气中有二氧化碳,反应前后通入空气,消除空气中二氧化碳的干扰;使得产生的二氧化碳能够被充分吸收;所以答案是:(1)锥形瓶;(2)我;充分吸收产生的CO2(3)消除空气中CO2的干扰;
(4) (1) 1g碳酸钙可与5g稀盐酸反应,但第四次加入稀盐酸后,剩余固体的质量没有减少,说明碳酸钙已完全反应,剩余固体为杂质;那么石灰石样品中碳酸钙的质量分数是4g?1g4g×100u%②设盐酸中溶质的质量为xca co 3 2 HCl CaCl 2 H2O CO2↑100731 GX 1001g 73 x 0.73g盐酸中溶质的质量分数为0.73 g5g×100% 14.6% A:This石灰石样品中碳酸钙。
5、盛放 石灰石的仪器名称(1)装置A中含有石灰石的仪器为锥形瓶,实验室常用石灰石和稀盐酸产生氧气,生成氯化钙、水和二氧化碳。该反应的化学方程式为:CaCO3 2 HCl ═ CaCl2 H2O 。(2)二氧化碳的密度大于空气的密度,应采用向上排风的方法收集,而装置C是向下排风的方法,所以装置C是错误的;装置A在室温下是固液反应,所以应该选择双氧水溶液来产生氧气。该反应的化学方程式为:2h2o 2 MnO 2·2h2o O2↑;↑;
碳酸能使紫色石蕊试液变红,因此可以观察到装置D中的紫色石蕊试液变红;(4)浓硫酸有吸水性,浓硫酸吸水后溶液质量会增加,所以答案是:(1)锥形瓶;caco3 2hcl═cacl2 h2o co2↑;(2)C;2h2o 2 MnO 2·2h2o O2↑;(3)紫色石蕊试液变红;复合反应;(4)吸水性;增加。